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        反射膜厚仪

        更新时间:2020-08-12

        产品品牌:Semiconsoft

        产品产地:德国

        产品型号:MProbe系列

        产品描述:反射光谱干涉法是一种非接触式、快速的光学薄膜厚度测量技术。

        产品概述

        当一束光入射到薄膜表面时,薄膜上表面和下表面的反射光会发生干涉,干涉的发生与薄膜厚度及光学常数等有关,反射光谱薄膜测厚仪就是基于此原理来测量薄膜厚度。

        反射光谱干涉法是一种非接触式、无损的、快速的光学薄膜厚度测量技术。

        测量范围: 1 nm - 1 mm

        波长范围: 200 nm -8000 nm

        光斑尺寸:2um -3 um

         

        标准配置中包含:

        1. 主机(光谱仪,光源,电线)

        2. 反射光纤

        3. 样品台及光纤适配器

        4. TFCompanion软件

        5. 校准套装

        6. 测试样品,200nm晶圆

         

        广泛的应用于各种工业生产及工艺监控中:

        半导体晶圆,薄膜太阳能电池,液晶平板,触摸屛,光学镀膜,聚合物薄膜等

        半导体制造:· 光刻胶          · 氧化物        · 氮化物

        光学镀膜:· 硬涂层          · 抗反射涂层         · 滤波片

        生物医学:· 生物膜厚度         · 硝化纤维

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